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雷射二極體模組和 VCSEL測試

2020/10/19

雷射二極體模組和 VCSEL測試

VCSEL 的直流和脈衝測試不僅可推動研發實驗室的創新發展,還可以在製造過程的早期識別出故障元件,有效降低製造成本,同時,在加速生命週期測試中也可以發揮關鍵作用。

VCSEL 具有比標準雷射二極體更複雜的半導體結構,但通常封裝較簡單。與邊緣發射雷射二極體不同,VCSEL 可在晶圓上進行測試。這為測試帶來了全新的機遇和挑戰,高速、靈活的測試解決方案將能顯著地降低測試成本。本應用摘要會同時著眼於可提供現今研發實驗室所需結果的硬體和軟體工具。立即下載應用摘要更深入瞭解各項測試。

2601B-PULSE 電源量測設備 (SMU) 儀器將高電流/高速脈衝產生器的電源與傳統 SMU 的量測能力及完整功能結合在一台儀器中。本產品具有令人印象深刻的 10 A @ 10 V,10μs 脈衝寬度和完整的 1 MS/s 數位化能力,有效地提升了各種應用的生產力,非常適合測試 LIDAR 和臉部辨識中所使用的垂直共振腔面射型雷射 (VCSEL)、照明和顯示器的LED,或是進行半導體裝置特性分析、電湧保護測試等等。

2601B-PULSE
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