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電容-電壓 (C-V) 測試是分析關鍵半導體參數的強大且廣泛使用的技術，提供了對關鍵特性的深入洞察，如摻雜濃度與分布、載子壽命、氧化層厚度、界面陷阱密度等。 |
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見證您的創新成果付諸實行。4200A-SCS 是可自訂且完全整合的參數分析儀，可提供對電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快速脈衝 I-V 特性分析的同步詳細資料。4200A-SCS 為最高效能的參數分析儀，能有效加速半導體、材料與製程的開發。
4200A-SCS ClariusTM 圖形化介面軟體提供了清晰且毫不妥協的量測與分析能力。Clarius 軟體內建豐富的量測專業知識和數百個隨時可用的應用測試，讓您能夠快速、自信地深入研究。
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使用 Keithley 最新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU，量測個位數飛法拉 (fF) 等級的電容。
4215-CVU 透過將 1 V 交流電源整合至 Keithley 業界領先的 CVU 架構中，
可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率範圍內提供低雜訊電容量測。
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探索 4200A-SCS 參數分析儀如何實現精確的 C-V 特性分析！ |
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