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【下載技術簡介】使用 MP5000 系列加速測試自動化

2026/03/04

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    驗證工程師、生產測試工程師和系統整合商經常會開發自動化測試設備 (ATE) 系統,用以測試電晶體、二極體、MOSFET 和 ASIC 等半導體裝置。
    自動化測試對於識別缺陷、驗證效能及確保品質非常重要,特別是在半導體、航太與國防等對可靠性要求極高的產業中更是如此。

    Tektronix 的 MP5000 系列模組化精密測試系統提供了一個靈活且具擴充性的平台,並採用嵌入式 TSP 指令碼技術,輕鬆簡化並加速您的自動化測試。

    在本技術簡介中,您將瞭解如何:
    ★ 熟悉儀器的 TSP 命令集
    ★ 有效地編排命令順序
    ★ 建立完整的測試程序
    ★ 將測試整合至您的測試環境中


    Tektronix MP5000 模組化精密測試系統設計精良,可靈活擴充。現在可混合使用 SMU 和 PSU 模組,未來則可擴充規模和功能。
    此系統具有高通道密度和快速模組切換功能,可以將停機時間降至最低,同時顯著提升輸送量,並以Tektronix 的高精確度和支援作為後盾,協助您輕鬆測試未來的產品。



    ★ 每通道高達 60 V 或 1.5 A,可同時進行輸出與量測
    ★ 每模組均具備雙通道,意味著機架利用率是傳統機架堆疊式 SMU 的四倍
    ★ 6 位半解析度可量測低至 100 fA 的電流
    ★ 1 MSa/s 的量測速率,可擷取暫態訊號
    ★ 施加電壓和感應電壓之間最大 6 V,適用於更長的電纜設定
    ★ 獨立可程式設定的正負限值,可靈活選擇輸出和輸入電流

    ★ 每通道 50 V 和 5 A,可獨立控制裝置
    ★ 每模組均提供雙通道,有效節省機架空間
    ★ 100 V 或 10 A 串聯或並聯堆疊,可滿足各種應用需求
    ★ ± 50 V 雙極輸出,無需交換導線
    ★ 小於 50 μs 的關斷時間,防止裝置過流和過壓
    ★ 四線感應,確保裝置終端的電壓準確


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