類型 | 檔案 | 日期 | 下載 |
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應用 | Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance/td> | 2013 | |
應用 | DevicesUsing the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with 4200 | 2008 |
Model 4200-SCS可配為支援多頻 (1 KHz – 10 MHz) C-V、極低頻率 (10 MHz – 10 Hz) C-V和準靜態C-V。
4210-CVU型號多頻C-V模組占用Model 4200-SCS機箱一個插槽,並提供C-V、C-T及C-F量測掃描 (多達4096資料點)。內建移除寄生效應的補償常式,能確保連接到待測裝置 (DUT) 的完整性。可選的功率套件允許高達+/- 200 V的直流偏壓。
極低頻率C-V方法是利用Model 4200-SCSSMU儀器的低電流量測功能,對待測裝置進行C-V量測,極低頻率C-V技術,使其可以精確的低測試頻率量測非常小的電容。這項申請專利中的窄頻正弦波技術,可使極高阻抗的裝置進行低頻C-V量測,裝置阻抗可高達1E15 歐姆以上。
準靜態C-V採用直流量測技術,使用兩台4200-SCS SMU 儀器與兩個4200-PA前置放大器。SMU適用於量測電流源、為電容器充電,然後量測該電壓、時間和放電電流。4200-SCS軟體包括可擷取常見C-V參數的測試程式和公式。