產品介紹

S530 參數測試系統
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KEITHLEY S530 Parametric Test Systems | 洛克Lockinc
功能說明
Keithley S530 參數測試系統

Keithley S530 參數測試系統是專為必須處理各種裝置和技術的生產和實驗室環境所提供的最佳化設計,具有業界領先的測試規劃靈活性、自動測試功能、探棒台整合,以及測試資料管理能力。這些測試解決方案的設計匯聚了 30 多年來吉時利為全球客戶所提供的各種各樣標準和自訂參數測試系統的寶貴經驗。

Keithley S530 系列參數測試系統具備 KTE 7 軟體,能提供高速且完全彈性的配置,並可隨著新應用的出現和需求變化而成長。S530 可以承受最高達 200 V 的測試,而 S530-HV 可以在任何針腳上進行最高達 1100 V 的測試,從而使傳輸率比競爭解決方案高出 50%。KTE 7 的新增功能是可選的系統測試頭,可以直接對接探棒並重新使用舊版探棒卡,並支援汽車標準 IATF-16949 要求的系統層級 ISO-17025 針腳校驗。同時也支援傳統 S600 和 S400 系統最簡單、最順暢的移轉路徑,具有完整的資料關聯性並能提高速度。

S530 功能

  • 靈活的探棒介面選項 (包括測試頭),支援傳統的 Keithley 和 Keysight 安裝
  • 業界標準的 KTE 軟體環境
  • 探棒只需要接觸一次,即可完整測試 HV 和 LV 參數
  • 透過全新系統參考單元 (SRU) 進行的全自動系統級校驗,符合最新品質標準
  • KTE 7 中的健康檢查軟體工具,可最大化系統正常運行時間和資料完整性
  • 內建暫態過電壓和/或過電流事件保護,可最大程度減少昂貴的系統停機時間或晶片損壞
  • 符合 ISO-17025 校驗要求並支援 IATF-16949 相容性
  • 提供 SECS/GEM 與 300 公釐晶圓廠的整合

全自動探針臺提供精準高速的量測

  • 能快速適應新器件與測試要求
  • 快速,靈活,交互式測試方案開發
  • 相容常見的全自動探針臺
  • 1kV,C-V測試,脈衝發生器,頻率測試,和低電壓測試提供方案
  • 與吉時利的 9139A 機型探棒卡轉接器相容
  • 支援重複使用現有的 5 吋探棒卡庫
  • 成熟的儀器技術確保在實驗室和工廠環境下均可獲得高量測準確度和重複性

※詳細應用操作,可來電洽詢。

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