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半導體片電阻與接觸電阻測試解決方案Customized Solution-3 | 洛克Lockinc

Customized Solution-3

半導體片電阻與接觸電阻測試解決方案

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功能說明
系統整合產品應用 ─
「半導體片電阻與接觸電阻測試解決方案」

Semiconductor Sheet Resistance and Contact Resistance Measurement

半導體技術是高科技產業的重要核心,在半導體材料與元件研發的過程中,半導體材料阻值的量測是必要也重要的,尤其是材料片電阻(Sheet Resistance)的量測和半導體與金屬之間的接觸電阻(Contact Resistance)都是半導體材料及元件研發的過程中不可或缺的。洛克儀器推出的半導體電阻量測系統主要有:


1. 四點探針片電阻量測系統:
主要針對片電阻(Sheet Resistance)的量測應用



2. TLM接觸電阻自動量測系統:
主要針對半導體與金屬之間的接觸電阻(Contact Resistance)的量測應用


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