快速、完整的裝置特性分析和可靠性測試指南
不斷發展的設計規模和新穎的材料使得晶圓級可靠性測試比以往任何時候都更加重要。這也推動了對上游可靠性測試和建模的需求,特別是在研發過程中。
儀器製造商正在推出更快速、更靈敏且高度靈活的新型可靠性測試工具,以協助降低測試成本並縮短上市時間。
Keithley 的 4200A-SCS 參數分析儀和封裝選項提供了快速、完整的裝置特性分析和可靠性測試所需的硬體和軟體。請參閱本應用摘要,以瞭解更多資訊。
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