產品介紹

電源電錶
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KEITHLEY 2400 Source Measure Unit SMU, SourceMeter Series, 1-Channel, 200 V, 1 A, 20 W | 洛克Lockinc

2400 系列

Keithley 多功能電源電錶

產品說明
Keithley 2400 圖形化系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流輸出/負載,現在已與直覺觸控式螢幕使用者介面上的量測耦合。對於 1000W 脈波和 100W 直流總功率,這些儀器可以同時輸出和量測電流 (從 10 fA 至 10 A 脈波) 和/或電壓 (從 100 nV 至 1100 V),讓使用者能夠「觸控、測試、創新」(Touch, Test, Invent®)。
型錄下載 (577 KB)
手冊下載 (928 KB)
功能說明

Keithley 2400 SourceMeter®電源量測單元儀器
 
機型 機型 觸控式螢幕 通道 最大電流來源/
量測範圍
最大電壓來源/
量測範圍
量測解析度
(電流/電壓)
電源 參考價格(未稅)
2401
2401
1
1A
20V
1pA / 100nV
20 W
NT$196,000
2400
2400
1
1A
200V
1pA / 100nV
20 W
NT$309,000
2410
2410
1
1A
1100V
1pA / 100nV
20 W
NT$591,000

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I-V 特性分析的精準儀器

與個別的儀器相比,SourceMeter 儀器的緊密耦合特性具有許多優勢。將電源和電錶安裝在同一半機架外殼中,藉此節省寶貴的機架空間,並簡化了遠端程式設計介面。

特性

  • 用於在各種裝置和材料上進行 I-V 特性分析的精密儀器
  • SMU 可以提供電流或電壓
  • SMU 可以量測電流和電壓
 

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透過內建電壓/
電流掃描功能大幅加快傳輸

SourceMeter 儀器提供的掃描解決方案,可透過自動化探鉤大幅加快測試速度,從而進一步提高傳輸率。無論您是對電晶體進行掃描、僅驗證連接器完整性、特性分析裝置效能,還是對幾乎任何高準確度的直流伏安特性分析,都是如此。

特性

  • 線性梯狀掃描
  • 對數梯狀掃描
  • 自訂掃描
 

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與切換系統整合
以進行快速的多點測試

SourceMeter 系列儀器具備廣泛的多種功能,藉此為許多行業的各種應用提供了出色的解決方案。為了與快速多點測試應用無縫整合,請將 SourceMeter 儀器與 Keithley 開關系統結合使用。

特性

  • 測試半導體裝置
  • 測試電路保護裝置
  • 測試光電子學元件
  • 用於加速壓力測試
 

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引導工程學生實現理念

Keithley SourceMeter SMU 是出色的工具,可以在實驗室練習中向學生傳授歐姆定律和 I-V 特性分析的概念,以深入瞭解電子裝置的行為和使用方式。SMU 為學生提供所需的體驗,以便為滿足行業標準做好準備。

特性

  • 將五台儀器的強大功能合而為一
  • 簡化教學實驗室工作台
  • 對研究所研究大有幫助
 

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Keithley KickStart 儀器控制軟體
無需程式設計

使用 KickStart 進行量測很簡單。 可迅速並輕鬆地分析您的裝置和材料特性,無需程式設計。 以圖形和表格格式視覺化即時資料結果。 匯出資料表格或圖形,以在 Excel 進行快速報告或其他分析。

  • 快速建立單一或掃描脈波測試
  • 產生電壓及電流源的線性、對數、列表、和雙重的掃描,並同時測量
  • I-V 特性分析應用,最多支援四個電源量測單元 (SMU) 儀器
  • Windows OS 上的 GPIB、USB、乙太網路連接能力
 

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Automated Control
from Lab to Fab

Keithley's Automated Characterization Suite (ACS) offers complete control of your equipment. Whether you need to control a few instruments on your bench, or automate an entire test rack for production, ACS offers a flexible, interactive environment for device characterization, parametric test, reliability test, and simple functional test.

  • Perform simple 1-off tests or build complex project trees
  • Code with Python inside ACS for unlimited flexibility and control
  • Manual or automated wafer prober control
  • Data management and statistical analysis capabilities
 


 

影片介紹:
 
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