【下載應用摘要】寬能隙裝置可靠性測試解決方案

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碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 等寬能隙 (WBG) 半導體擁有高功率效率、更高的切換頻率以及更低的洩漏，正在超越標準矽裝置。其提高的效能使其成為效率至關重要的高能應用的理想選擇，例如電動汽車 (EV) 的驅動系統，或用於使 EV 電池恢復活力的充電站。隨著寬能隙半導體逐漸擴及更多應用領域，確保其長期可靠性已是裝置設計過程中的重要步驟。若能在裝置設計早期就進行準確的測試，就能在裝置封裝或進入生產環境前找出問題點。

可靠性測試解決方案有兩個部分：為裝置供電的儀器和量測裝置的儀器。多通道的可程式設計電源供應器可用於為裝置供電和施加壓力。電源的通道可以串聯或並聯在一起，以增加電源供應器的電壓或電流輸出。具有掃描功能的可程式設計電源供應器可讓您自訂壓力例行程序以滿足您的測試需求。使用功能強大的軟體工具加快裝置分析的速度。

寬能隙可靠性測試的高品質測試解決方案

為裝置供電 2230 型直流電源供應器

• 2230-30-6：2 個 30 V、6 A 通道和 1 個 5 V、3 A 通道
• 2230-30-6：2 個 30 V、3 A通道和 1 個 5 V、3 A 通道 
• 可程式化
• 並聯或串聯組合通道
• mV 解析度

獲得應用摘要瞭解如何使用功能強大的工具加快裝置分析的速度，進而節省測試自動化和資料收集的時間，並有助於確保您能夠更快地獲得最佳結果!