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【精選下載】最佳化高效能 GaN 電晶體的量測

2024/2/7








 

　
Tektronix
 


準確量測高速 GaN 電晶體
 

若要透過 GaN 電晶體提升切換速度，您需要良好的量測技術和技巧。瞭解如何進行正確的量測並使用正確的量測儀器是最佳化以 GaN 為基礎的高效能設計的關鍵。

這本最新應用摘要將重點介紹如何利用滿足使用者需求的量測設備和量測技術來準確地評估高效能 GaN 電晶體。同時還會評估與非接地參考波形一起使用的高頻寬差動探棒。


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發現非隔離探棒隱藏的快速浮動訊號。IsoVu™ 探棒技術利用光學隔離幾乎消除了共模干擾。這可以在 100V/ns 或更快的速度下對 ±60kV 的參考電壓進行準確的差動量測。
利用 IsoVu 第二代設計，您只需要 1/5 的尺寸，即可擁有 IsoVu 技術的所有優勢。透過通用的 MMCX 連接器，以及頻寬、動態範圍和共模抑制效能的無與倫比的組合，第二代 IsoVu 探棒為隔離式探棒技術樹立了全新的標準。
(點擊圖片瞭解更多詳情)

 

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